MIRA子宮內膜容受性檢測

2022-06-23

MIRA－子宮內膜容受性檢測介紹：

子宮內膜容受性是指子宮內膜接受胚胎著床的狀態，又可區分為：內膜接受期前、內膜接受期與內膜接受期後，當子宮內膜處於接受期時，才具有接受胚胎著床的能力，這種時期又被稱之為「著床窗期」(Window of Implantation, WOI)。

一般標準女性的著床窗期約再排卵後5-7天 (月經週期第19~21天)。根據研究指出，在反覆性著床失敗的案例中大約有30%的人著床窗期有偏移的問題。可能就造成胚胎著床的主要原因之一。
而MIRA是一項分子生物檢測技術，利用偵測與子宮內膜容受性相關的miRNA生物標記來分析女性子宮內膜容受性的狀態，有助於找出女性最適當的胚胎植入時間點，進而提高胚胎植入後成功著床的機率。

適用對象：

• 任何有計畫想進行試管嬰兒的女性
• 36歲以下，胚胎及子宮狀況良好，植入2次以上，未能成功懷孕者
• 胚胎有通過PGT-A(著床前染色體篩檢)，植入1次以上，未能成功懷孕者

延伸閱讀：

植入前的檢查，關於PGT-A與PGT-M